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【2h】

Proof that akers' algorithm for locally exhaustive testing gives minimum test sets of combinational circuits with up to four outputs

机译：证明了akers的局部穷举测试算法可提供具有四个输出的组合电路的最小测试集

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作者
Michinishi, Hiroyuki; Yokohira, Tokumi; Okamoto, Takuji;
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作者单位

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年度 1993
总页数
原文格式 PDF
正文语种 {"code":"en","name":"English","id":9}
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